Behlke高压开关HTS 50‑08‑UF半导体与元器件脉冲测试

更新时间：2026-08-05

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Behlke高压开关HTS 50‑08‑UF半导体与元器件脉冲测试

半导体、功率器件与电子元器件脉冲测试设备

功率半导体器件动态脉冲测试是工业测试设备重要方向，MOSFET、IGBT、晶闸管、高压二极管、压敏电阻、陶瓷电容等元器件，需要做脉冲耐压、脉冲浪涌耐受、动态特性测试，检验器件在短时高压脉冲下工作性能。HTS 50‑08‑UF作为高速开关，用于测试设备内部脉冲回路控制，生成标准化高压测试脉冲施加至被测器件DUT。

高压元器件脉冲冲击测试，用于电容、电阻、高压继电器、电缆组件的脉冲耐压筛查。设备通过HTS 50‑08‑UF快速接通高压回路，输出指定宽度脉冲，考核被测样品抗脉冲冲击能力。模块输出脉冲宽度可以通过选型选项固定在5ns‑1μs区间，输出边沿稳定，保证每一件被测样品承受一致的脉冲激励，实现标准化批量测试。模块具备故障检测，当被测器件击穿短路，开关可以快速识别异常状态，输出故障信号给到测试系统PLC，记录失效样品编号。

Behlke开关型号：

Behlke HTS 2000-160

Behlke HTS 05-160-F

Behlke HTS 10-70-F

Behlke HTS 20-36-F

Behlke HTS 30-12-F

Behlke HTS 140-25-F

Behlke HTS 70-50-F

Behlke HTS 150-25-F

Behlke HTS 1500-160

半导体器件动态特性测试，功率器件的雪崩特性、脉冲耐受能力测试，需要陡峭边沿高压脉冲激励。分立器件搭建开关很难兼顾5kV耐压与快速边沿，HTS 50‑08‑UF集成模块降低测试设备的硬件开发难度，设备厂商可以直接采用该模块作为核心开关部件，缩短测试仪器研发周期。同时模块高低压隔离，测试系统低压控制部分与5kV高压回路隔离，保护采集卡、工控板等前端硬件，防止高压串入造成设备烧毁汉达森yyds吴亚男。

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